「高等学校工業 電気機器」の版間の差分

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並列的な穴は、磁界Hの測定方法じゃなくて、磁気シールドの測定方法だろう
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なお、物質内部の磁束密度の測定方法とは、磁性体の内部に小さな穴をあけ、その空間に測定器の端子などを入れて穴の中の磁束密度を測定し、それを磁束密度の保存法則から「この小さな穴の空間の磁束密度は、材料内部の磁束密度と等しいはず」だろうと類推したもの。(参考文献: 書名は忘れたが、丸善出版の物理学の電気磁気学の本(1980年代くらいの出版年の本だったかな)に、こういう感じのことが書いてあった。緑色の表紙の本。)
 
材料内部の磁束密度は、材料形状が普通の長方形・正方形状や柱状・円柱状の材料なら、材料の外表面ちかくなどを除けば、内部での磁束密度の大きさは、ほぼ一定である。けっして、内部にもぐるほど磁束密度が大きくなったりしないし、同様に内部にもぐるほど磁束密度が小さくなったりもしない。このような事も、誰かが実際に材料内に穴をあけて、そこの磁場を測定するなどの実験によって、最初は調べたわけである。
現代では、すでに物質中での磁束についての基本法則などが既に分かってるので、いちいち内部に穴を空けて材料中の磁束を測定を検証する必要がないものの、物理学の原理的には、いちおう誰か物理学者がじっさいに磁場を測定して、きちんと検証しているというわけである。
 
なので、物質の透磁率μは、けっして位置によって変化しない、その材料固有の物理定数である。
 
もっとも現代では、すでに物質中での磁束についての基本法則などが既に分かってるので、いちいち内部に穴を空けて材料中の磁束を測定を検証する必要がないものの、物理学の原理的には、いちおう誰か物理学者がじっさいに磁場を測定して、きちんと検証しているというわけである。
 
[[File:磁束の平行方向の不連続性.svg|thumb|600px|磁束の平行方向の不連続性]]
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[[File:磁場の測定の穴.svg|thumb|300px|磁界H気遮蔽、磁気シールド的な影響を測定できさいの穴かも?]]
いっぽう、右図のように、磁力線に平行な穴にすれば、穴のない経路への迂回による影響(磁気遮蔽、磁気シールド的な影響)が測定できるだろう。(← わたしの私見。独自研究?)
いっぽう、この材料が外部から受けている磁界の強さHを測定するさいの穴の向きは、磁束密度Bの測定とは逆のようにすればいいので、右図のように、磁力線に平行な穴になる。
 
(参考文献は同じ)
磁力線の流れに、並列的に穴を配置する、というわけである。(← わたしの私見)
 
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こうして、直列的な細ながい穴を配置によって、物質内部の束密度Bと磁界Hの両方測定検証できるので、あとは、外部電流などのつくる外部磁場をHとすれば、BとHとの比率計算で求めることにより、材料中の透磁率 μ を検証できる。